ASTM F 534-2002 硅片弯曲标准试验方法
时间:2024-05-14 05:27:32 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9486
【英文标准名称】:StandardTestMethodforBowofSiliconWafers
【原文标准名称】:硅片弯曲标准试验方法
【标准号】:ASTMF534-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;试验
【英文主题词】:silicon;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
MIL-HDBK-814, MILITARY HANDBOOK: IONIZING DOSE AND NEUTRON HARDNESS ASSURANCE GUIDELINES FOR MICROCIRCUITS AND SEMICONDUCTOR DEVICES (08 FEB 1994)., The purpose of this handbook is to establish a guide to the application of piece part hardness assurance programs for the effects of ionizing raditaion (total) dose and neutron damage to semiconductor electronics.
基本信息
| 标准名称： | 铁路铅基轴承合金分析方法 |
| 中标分类： |
铁路 >>
机车车辆通用标准 >>
通用零部件 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2004-08-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 16页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 铁路 机车车辆通用标准 通用零部件