基本信息
| 标准名称： | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 |
| 英文名称： | The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： | |
| 替代情况： | 替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1989-03-31 |
| 实施日期： | 1990-02-01 |
| 首发日期： | 1979-05-26 |
| 作废日期： | 2006-11-01 |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： | 上海冶金研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：6， 字数：8千字 |
适用范围
本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法