【英文标准名称】:StandardTestMethodforGelTimeofSolventlessVarnishes
【原文标准名称】:无溶剂清漆凝固时间的标准试验方法
【标准号】:ASTMD3056-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:绝缘;清漆;试验
【英文主题词】:testing;varnishes;insulations
【摘要】:
【中国标准分类号】:G51
【国际标准分类号】:29_035_60
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMercaptansinNaturalGasUsingLength-of-StainDetectorTubes
【原文标准名称】:用色斑长度检测管测定天然气中的硫醇的标准试验方法
【标准号】:ASTMD1988-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:天然气;试验
【英文主题词】:Naturalgas;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:E24
【国际标准分类号】:75_060
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 硅抛光片表面质量目测检验方法 |
| 英文名称： | Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection |
| 中标分类： |
冶金 >>
半金属与半导体材料 >>
半金属与半导体材料综合 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
半导体材料
|
| 替代情况： | 替代GB/T 6624-1995 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2009-10-30 |
| 实施日期： | 2010-06-01 |
| 首发日期： | 1986-07-26 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
| 起草单位： | 上海合晶硅材料有限公司 |
| 起草人： | 徐新华、王珍 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2010-06-01 |
| 页数： | 8 |
| 计划单号： | 20065626-T-469 |
适用范围
本标准规定了在一定光照条件下，用目测检验单晶抛光片（以下简称抛光片）表面质量的方法。
本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。
前言
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目录
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引用标准
GB/T14264 半导体材料术语
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料