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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

时间:2024-03-29 22:24:07 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9305
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基本信息
标准名称:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文名称:General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1992-01-02
实施日期:1993-08-01
首发日期:1992-12-17
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:上海件五厂
出版社:中国标准出版社
出版日期:2004-08-13
页数:平装16开, 页数:10, 字数:16千字
书号:155066.1-9734
适用范围

本标准规定了半导体集成电路数字锁相环电参数测试方法的基本原理。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
基本信息
标准名称:6J4(M.J.T)型电子管
发布日期:
实施日期:1992-05-20
首发日期:
作废日期:
出版日期:
适用范围

没有内容

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 电真空器件 收 发信管
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringIntrinsicElasticRecoilofBalloon-ExpandableStents
【原文标准名称】:测量气球反冲力的标准试验方法.可膨胀幅度
【标准号】:ASTMF2079-2002
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A42
【国际标准分类号】:11_040_20
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语